E2M-Win Professional是用于分析各向异性层状材料的解决方案！提供更高级的电磁分析、仿真功能，针对层状广义介质设计，提供给高级材料建模、材料属性自定义、无需代码即可构建复杂的多层结构，快速创建材质、无缝仿真设置和设计、强大的可互动性、图形化剖面分析结果等等，精度更高，误差率小，数值稳定，是适合非常值得收藏的高级解决方案。

1、E2M-Win 的主要特点

·高级材料建模：全面分析由完全本构张量定义的各向异性板块：[ε]、[μ]、[ζ]、[ξ]。

·轻松支持复杂的张量输入和用户自定义的材料属性。

·内置坐标旋转工具，用于精确的张量作。

2、直观的无代码工作流程

·图层设计师：只需点击即可构建复杂的多层结构——无需编码。

·用户友好界面：从材质创建到仿真设置，体验无缝的图形界面环境。

3、强大且互动的可视化

·可视反射率（R）、透射率（T）和吸收率（A）光谱。

·通过交互式三维曲面图、二维热图和一维线条剖面分析结果。

·TE/TM模态的详细偏振分析。

4、经过验证的准确性（基准验证）

·与开创性研究相符

我们将E2M-Win与Mackay和Lakhtakia合著的标准参考书《电磁学与光学中的转移矩阵方法》进行了基准测试。

E2M-Win成功复现复杂二向异性介质的精确光谱响应。

·高精度

该基准的最大误差率：6.41×10⁻¹1。

为您的光学研究实现数值稳定性和高精度结果。