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Semiconductor Test System Development Software 21.0

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         Semiconductor Test System Development Software破解版是NI半导体测试系统,用于RF,混合信号和MEMS半导体器件的生产就绪型ATE解决方案,有助于缩短上市时间并降低测试成本。从晶圆测试到封装部件测试,这款小尺寸测试仪支持多站点测试,具有高并行测试效率
Semiconductor Test System Development Software破解版是NI半导体测试系统,用于RF,混合信号和MEMS半导体器件的生产就绪型ATE解决方案,有助于缩短上市时间并降低测试成本。从晶圆测试到封装部件测试,这款小尺寸测试仪支持多站点测试,具有高并行测试效率(PTE),并提供创新的交互式调试体验。凭借数十年的软件开发经验,测试程序开发具有图形化、用户友好和直观的特点。STS建立在实验室级设备上,还可以优化产量并提高质星。

STS Software 21.0增加了以下主要新功能:

1、新硬件支持
-PXIe-6569-增加了对PXIe-6569高速串行仪器的支持。
-PXIe-4137(40 W)源测量单元(SMU)—增加了对PXIe-4137的高功率(40W/10 A,脉冲)SMU版本的支持。
-PXIe-4190—增加了对PXIe-4190 LCR的支持。支持仅适用于具有CX配置的STS型号。
2、新的和改进的测试程序开发和调试
-在PXIe-5831+PXIe-5841上增加了对高达21.5 GHz的扩展连续性测试频率范围的支持,并将STS-5531作为STS RF子系统。
-RF Steps添加了以下新的步骤和示例:
.WLAN测试-8 GHz示例序列演示了如何在PXIe-5831+PXIe-5841上使用STS-5531作为STS RF子系统执行误差矢量幅度(EVM)测量和噪声补偿。
.S参数测试-6 GHz示例序列演示了如何仅发布S参数幅度或S参数幅度和相位。
.NR测试示例序列演示了如何使用TSM RF步骤来实现NR TXP测量。
-RF Steps添加了以下新测量:
.NR ACP测量——执行测量偏移和积分带宽的自定义定义。
.WLAN OFDM ModAcc测量-支持矢量平均类型,可在保留信号频谱的同时降低信号的本底噪声。
.WLAN测量——支持IEEE 802.11be标准。
-STS辅助射频工具提供增强的黄金单位校准工具,用于根据黄金DUT或已知良好单位测量计算和更新相关偏移。增强的功能支持多个站点。您可以校准黄金单元,重试失败的黄金单元,检查校准间隔,并指定每个站点黄金单元的最小通过数。
-STS辅助射频工具为InstrumentStudio提供了增强的STS射频开关控制面板插件,允许您配置和连接射频子系统内部开关和路径以执行射频测量。增强的功能扩展了对PXIe-5831+PXIe-5841的支持,将STS-5531作为STS射频子系统,将测量频率扩展到21.5 GHz,并支持PXIe-5841和STS-5534作为STS射频子系统。

安装激活说明

1、下载并解压,如图所示
2、装载镜像文件,并进行安装,选择安装内容
3、勾选接受协议选项
4、安装完成,使用NI License Activator 1.2.exe进行激活,右键点击activate

闪电小编说明:

可用于生产的ATE解决方案,它可以降低测试成本并加快越来越多的模拟半导体设备的上市时间。半导体测试系统开发软件,用于射频、混合信号和MEMS半导体器件的生产就绪型ATE解决方案,有助于缩短上市时间并降低测试成本。

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