Thermo Scientific Avantage破解版|Thermo Scientific Avantage 6.8.1 完美激活版免费下载-闪电软件园

　　　　　　　　 Thermo Scientific Avantage是功能全面的表面分析的专用解决方案，这里有更多的功能和优势，不管是进行准确的表面分析和仪器的控制，还是数据的采集和处理以及详细的报告都具有更多的支持和帮助，充分激发仪器的潜在性能，更准确的结果，更详细的分析和处理。

Thermo Scientific Avantage是功能全面的表面分析的专用解决方案，这里有更多的功能和优势，不管是进行准确的表面分析和仪器的控制，还是数据的采集和处理以及详细的报告都具有更多的支持和帮助，充分激发仪器的潜在性能，更准确的结果，更详细的分析和处理。让专业分析人士更值得信赖，整个过程都可以交给它来处理，操作过程也比较简单清晰，强大的数据分析系统为您的工作保驾护航

功能特色

一、简便的XPS操作

使用Thermo Scientific™Avantage软件进行表面分析，充分发挥电子能谱仪的全部性能。Avantage软件作为最佳的数据系统，集仪器控制、数据采集、数据处理和报告编制于一体，能提供高精度、高准确性和可靠的仪器控制。

无论在专业研究实验室使用还是在多用户环境中作为一个工具使用，所有用户都离不开灵活、直观而又富特色的Avantage软件，使用Avantage软件可从样品中获得最丰富的信息。

专业研究

多用户操作

适用于所有用户

数据系统为现代XPS仪器的关键组成部分，涉及仪器操作、数据精简、报告编制等所有方面。

所有Thermo Scientific™XPS系统均使用Avantage™软件控制仪器、处理数据及编制报告。无论在专业研究实验室使用还是在多用户环境中作为一个工具使用，所有用户都离不开灵活、直观而又富特色的Avantage，使用Avantage可从样品中获得最丰富的信息。

所有Thermo Scientific表面分析系统的仪器控制操作

非常灵活的实验设计

自动数据采集，包括处理数据功能和编制报告

综合数据库，参考数据和智能数据解析算法

高级数据精简工具

灵活的报告编制功能

二、完全系统控制、校正和跟踪

从装样开始，Avantage会完成所有的仪器操作，准备采集数据。

Avantage检测所有系统参数，并记录保存仪器运行数据。

Avantage自动校正系统重要部件，全程掌握记录关键参数，如能量标精度。

1、数据采集

Avantage能消除障碍，从样品上采集到高效精准数据。无论是常规的点分析，还是XPS成像分析或者深度剖析，Avantage都能引导仪器操作人员制定完整实验方案。用户可设定自己专门使用的实验参数，并在库中保存常用的设定，以方便日常实验调用。

方便的缺省参数，智能化的扫描优化以及自动分析流程，系统可以在采谱的同时进行各种分析处理，直至打印出报告。

2、实验树

实验树是采谱程序的核心，由几个简单的、模块化的组件构成。

3、自动识谱

智能化的能谱识别程序可定量计算元素组成，鉴别表面元素可能的化学价态。

4、Knowledge阅读器

Avantage Knowledge阅读器包含有XPS信息，提供实验需要考虑的建议和识谱建议。Knowledge阅读器连接能谱数据库，该数据库能在Avantage数据系统中打开，用于帮助谱峰拟合和化学态定量分析。

三、数据分析

用户在Avantage中很方便地选择处理工具，快速处理数据得到结果。

使用Avantage，用户可从样品很轻松地得到重要的化学信息，包括对各谱定量、分峰得到的重要特征信息。

分峰

为了从重叠谱峰中定量分析化学态，必须采用合成谱形方法对数据进行拟合。Avantage能调节背景形状、谱形以及拟合算法，以尽量保证结果的准确性。使用单键按钮就可添加相关联的双峰，因此用户可用已知峰确定与之相关联的另一个重叠峰。

四、元素和化学态像

图像数据中包含有丰富的信息，每一个像素点均对应于谱图阵列中一张谱，但这需要软件工具从图像中提取出来。这些工具在Avantage中应有尽有。利用这些工具可以重构出元素和化学像、相分析像，以及从微小的特征结构中提取谱图。

1、回溯谱图

在XPS图像中选择感兴趣的区域。

Avantage对每一个像素点进行平均，得到每一个区域内或每一个元素的结果。用这种方法并行采集的ESCALAB Xi+图像可显示尺寸小于7µm的特征谱。

2、组分分析和相分析

用主成分分析功能对图像数据进行分析，可以提取谱成分，用于拟合表面化学态或识别表面相。相分析能构造出元素或化学态定量分析像，以及每一种相的平均谱，特别适合于XPS图像分析结果报告。

五、数据剖析

XPS在探索层状化学结构中发挥着关键的作用。无论是借助于标准离子枪或高级MAGCIS™离子源采集溅射深度剖析，或者采集角分辨XPS数据，Avantage均能收集和处理这些数据。剖析图能在收集过程中实时显示，并通过对剖析图处理，能最大限度地了解薄膜和超薄膜。

1、深度剖析

在采谱期间，Avantage可显示深度剖析结果，可在采集深度剖析数据的过程中修改溅射参数。通过与远程操作仪器的PC计算机相结合，即使对于未知样品，也能在首次测量时，得到每一个深度剖析的正确结果。使用全面的工具对每一剖析层中谱峰进行精确拟合，并将每一层的溅射时间转化成深度，可以定位化学结构层并进行测量分析。

2、角分辨XPS

不论是运用ESCALAB Xi+、K-Alpha或者Theta Probe的并行成像功能收集ARXPS数据，Avantage拥有所有必需工具，可最大限度地从超薄膜中提取信息。简易的相对深度图易于使用，可确定化学结构层分布次序，计算层厚。

角分辨处理程序(ARProcess)插件能读入数据，并运用高级遗传算法构造出超薄膜结构的组分剖析结果。

六、报告

从简单的"拷贝粘贴"，到将数据集完整报告导出到自定义模板中，Avantage用户可将XPS结果快速转入报告、论文和幻灯片。

闪电小编说明：

深入探索分析，多功能集于一身，绝佳的数据系统，为进行现代分析提供更多的帮助，精准可靠的工作流程和结果，取得诸多用户的信任，充分挖掘探索电子光谱仪的潜能，发挥彻底并涵盖了从样品到报告的整个过程，让用户更加轻松。

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